Transportphaenomene in Polymer-Substrat-Grenzschichten: Vergleich spektroskopischer und phaenomenologischer Eigenschaften
Projektleitung und Mitarbeiter
Egelhaaf, H.-J. (Dipl. Chem.), Gauglitz, G. (Prof. Dr.), Goepel,
W. (Prof. Dr. rer. nat.), Hellstern, U. (Dipl. Chem.), Hoffmann,
V. (Prof. Dr.), Kohlhage, S. (Dipl. Chem.), Kugler, T. (Dipl. Chem.),
Nussbaumer, K. (Dipl. Chem.), Oelkrug, D. (Prof. Dr.), Oeter,
D. (Dipl. Chem.), Ziegler, Ch. (Dr.)
Forschungsbericht :
1990-1992
Tel./ Fax.:
Projektbeschreibung
Auf Halbleiter-Substraten
werden Polymerschichten mit definierten Eigenschaften hergestellt. Die
Schichtsysteme werden systematisch modifiziert durch die Vorbehandlung
des Substrats, die Polymerisationsbedingungen, das Einlagern von
Dotiermolekuelen und unterschiedliche Kontaktierung. Zur
Charakterisierung der Schichten und ihrer Grenzflaechen dienen
einerseits oberflaechen- und grenzflaechenanalytische Methoden wie
XPS, UPS, TDS, SIMS und STM (letztere in Zusammenarbeit mit
Verbundpartnern) und andererseits zeit- und ortsaufgeloeste
Fluoreszenz und winkelabhaengige ATR-Spektroskopie im UV/VIS-, IR- und
FIR-Bereich. Dielektrische und Transport-Eigenschaften werden ueber
Impedanzspektroskopie im weiten Frequenzbereich ohne und mit
Photonenaktivierung sowohl parallel als auch senkrecht zur
Schichtnormalen bestimmt. Eine atomistische Interpretation ermoeglicht
die systematische Optimierung der Grenzflaecheneigenschaften.
Mittelgeber
Drittmittelfinanzierung: BMFT
Publikationen
Abraham, M., Lach, S., Dominik, A.,
Lege, R., Rauer, K., Hoffmann, V., Oelkrug, D., Goepel, W.:
Preparation and spectroscopic characterization of a thin polymer film
on silicon in UHV: 2,5 distyrylpyrazine. -
Conf. Proc. Intern. Conf. Polymer, Solid Interf., Namur (B) 9/1991,
p. 45.
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- Stand: 15.09.96
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